|
序號(hào)
|
設(shè)備名稱
|
要求
|
出廠編號(hào)
|
采購(gòu)發(fā)票編號(hào)
|
|
一、常規(guī)檢測(cè)（CG）
|
|
1
|
射線檢測(cè)裝置
|
不少于8臺(tái)
|
|
|
|
其中管電壓大于或者等于300kV的X射線檢測(cè)裝置(或者γ射線機(jī))不少于2臺(tái)
|
|
|
|
2
|
射線報(bào)警儀
|
不少于6臺(tái)
|
|
|
|
3
|
底片烘干箱以及黑度計(jì)
|
底片烘干箱不少于1臺(tái)
|
|
|
|
黑度計(jì)(含標(biāo)準(zhǔn)黑度片)不少于1臺(tái)
|
|
|
|
4
|
暗室設(shè)施和膠片沖洗裝置
|
暗室設(shè)施不少于1套
|
|
|
|
膠片沖洗裝置不少于1套
|
|
|
|
5
|
觀片燈
|
亮度大于或者等于40000cd/m2不少于4臺(tái)
|
|
|
|
其中亮度大于或者等于80000cd/m2不少于1臺(tái)
|
|
|
|
6
|
曝光曲線制作裝置
|
不少于1套
|
|
|
|
7
|
數(shù)字式超聲波探傷儀
|
不少于5臺(tái)
|
|
|
|
8
|
超聲波測(cè)厚儀
|
不少于1臺(tái)
|
|
|
|
9
|
超聲波檢測(cè)試塊
|
CSK-ⅠA不少于1塊
|
|
|
|
CSK-ⅡA-1不少于1塊
|
|
|
|
CSK-ⅡA-2不少于1塊
|
|
|
|
CSK-ⅡA-3不少于1塊
|
|
|
|
GS-1不少于1塊
|
|
|
|
GS-2不少于1塊
|
|
|
|
GS-3不少于1塊
|
|
|
|
GS-4不少于1塊
|
|
|
|
階梯試塊不少于1塊
|
|
|
|
1號(hào)試塊不少于1塊
|
|
|
|
2號(hào)試塊不少于1塊
|
|
|
|
3號(hào)試塊不少于1塊
|
|
|
|
4號(hào)試塊不少于1塊
|
|
|
|
10
|
磁粉檢測(cè)儀
|
磁粉檢測(cè)儀不少于5臺(tái)
|
|
|
|
其中適用于棒狀和管狀部件檢測(cè)的不少于1臺(tái)
|
|
|
|
11
|
黑光燈
|
不少于1臺(tái)
|
|
|
|
12
|
照度計(jì)和輻照計(jì)
|
照度計(jì)不少于1臺(tái)
|
|
|
|
輻照計(jì)不少于1臺(tái)
|
|
|
|
13
|
磁懸液濃度沉淀管
|
不少于1個(gè)
|
|
|
|
14
|
磁粉檢測(cè)靈敏度標(biāo)準(zhǔn)試片(塊)
|
不少于1套
|
|
|
|
15
|
磁粉探傷儀自校裝置
|
45N重力塊不少于1塊
|
|
|
|
118N重力塊不少于1塊
|
|
|
|
磁場(chǎng)指示器不少于1臺(tái)
|
|
|
|
兆歐表不少于1臺(tái)
|
|
|
|
16
|
滲透檢測(cè)靈敏度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊
|
標(biāo)準(zhǔn)試塊不少于2塊
|
|
|
|
對(duì)比試塊不少于2塊
|
|
|
|
二、渦流檢測(cè)（ECT）
|
|
1
|
多頻渦流探傷儀
|
不少于2臺(tái)
|
|
|
|
2
|
渦流檢測(cè)靈敏度調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)試塊或者對(duì)比試塊
|
不少于1套
|
|
|
|
3
|
黑光燈
|
不少于1臺(tái)
|
|
|
|
4
|
照度計(jì)和輻照計(jì)
|
照度計(jì)不少于1臺(tái)
|
|
|
|
輻照計(jì)不少于1臺(tái)
|
|
|
|
5
|
滲透檢測(cè)靈敏度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊
|
標(biāo)準(zhǔn)試塊不少于2塊
|
|
|
|
對(duì)比試塊不少于2塊
|
|
|
|
三、聲發(fā)射檢測(cè)（AE）
|
|
1
|
16通道聲發(fā)射檢測(cè)儀
|
不少于1臺(tái)
|
|
|
|
2
|
聲發(fā)射靈敏度調(diào)試試塊和對(duì)比試塊
|
調(diào)試試塊不少于1套
|
|
|
|
對(duì)比試塊不少于1套
|
|
|
|
3
|
數(shù)字式超聲波探傷儀和超聲波檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊
|
數(shù)字式超聲波探傷儀不少于1臺(tái)
|
|
|
|
CSK-ⅠA不少于1塊
|
|
|
|
CSK-ⅡA-1不少于1塊
|
|
|
|
CSK-ⅡA-2不少于1塊
|
|
|
|
CSK-ⅡA-3不少于1塊
|
|
|
|
階梯試塊不少于1塊
|
|
|
|
1號(hào)試塊不少于1塊
|
|
|
|
2號(hào)試塊不少于1塊
|
|
|
|
3號(hào)試塊不少于1塊
|
|
|
|
4號(hào)試塊不少于1塊
|
|
|
|
四、衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)（TOFD）
|
|
1
|
雙通道衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)儀
|
不少于2臺(tái)
|
|
|
|
2
|
TOFD探頭
|
不同頻率且范圍在2.5MHz～10MHz的不少于3對(duì)
|
|
|
|
3
|
掃查裝置及相關(guān)附件
|
帶位置傳感器，且不少于1套
|
|
|
|
4
|
衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)規(guī)定的試塊
|
覆蓋12mm～100mm范圍的對(duì)比試塊不少于1套
|
|
|
|
覆蓋12mm～100mm范圍的模擬試塊不少于1套
|
|
|
|
5
|
數(shù)字式超聲波探傷儀和超聲波檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊
|
數(shù)字式超聲波探傷儀不少于1臺(tái)
|
|
|
|
CSK-ⅠA不少于1塊
|
|
|
|
CSK-ⅡA-1不少于1塊
|
|
|
|
CSK-ⅡA-2不少于1塊
|
|
|
|
CSK-ⅡA-3不少于1塊
|
|
|
|
階梯試塊不少于1塊
|
|
|
|
1號(hào)試塊不少于1塊
|
|
|
|
2號(hào)試塊不少于1塊
|
|
|
|
3號(hào)試塊不少于1塊
|
|
|
|
4號(hào)試塊不少于1塊
|
|
|
|
6
|
射線檢測(cè)裝置、射線報(bào)警儀、底片烘干箱、黑度計(jì)、暗室設(shè)施和膠片沖洗裝置、觀片燈和曝光曲線制作裝置
|
射線檢測(cè)裝置不少于1臺(tái)
|
|
|
|
射線報(bào)警儀不少于1臺(tái)
|
|
|
|
底片烘干箱不少于1臺(tái)
|
|
|
|
黑度計(jì)(含標(biāo)準(zhǔn)黑度片)不少于1臺(tái)
|
|
|
|
暗室設(shè)施和膠片沖洗裝置不少于1套
|
|
|
|
亮度大于或者等于40000cd/m2的觀片燈不少于1臺(tái)
|
|
|
|
曝光曲線制作裝置不少于1套
|
|
|
|
7
|
磁粉探傷機(jī)、磁懸液濃度沉淀管、磁粉檢測(cè)靈敏度標(biāo)準(zhǔn)試片(塊)、磁粉探傷儀自校裝置
|
磁粉探傷機(jī)不少于1臺(tái)
|
|
|
|
磁懸液濃度沉淀管不少于1個(gè)
|
|
|
|
磁粉檢測(cè)靈敏度標(biāo)準(zhǔn)試片(塊)不少于1套
|
|
|
|
45N重力塊不少于1塊
|
|
|
|
118N重力塊不少于1塊)
|
|
|
|
8
|
滲透檢測(cè)靈敏度測(cè)試塊
|
標(biāo)準(zhǔn)試塊不少于1套
|
|
|
|
對(duì)比試塊不少于1套
|
|
|
|
9
|
超聲波測(cè)厚儀、黑光燈、照度計(jì)、輻照計(jì)
|
超聲波測(cè)厚儀不少于1臺(tái)
|
|
|
|
黑光燈不少于1臺(tái)
|
|
|
|
照度計(jì)不少于1臺(tái)
|
|
|
|
輻照計(jì)不少于1臺(tái)
|
|
|
|
五、漏磁檢測(cè)（MFL）
|
|
1
|
智能腐蝕內(nèi)檢測(cè)器
|
不少于1臺(tái)
|
|
|
|
2
|
智能變形檢測(cè)器
|
不少于1臺(tái)
|
|
|
|
3
|
管道清管器
|
不少于1套
|
|
|
|
4
|
管道內(nèi)檢測(cè)試塊
|
靈敏度調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊各1套
|
|
|
|
5
|
內(nèi)檢測(cè)數(shù)據(jù)分析軟件
|
不少于1套
|
|
|
|
6
|
地面標(biāo)記模塊
|
不少于50個(gè)
|
|
|
|
7
|
管體腐蝕成像檢測(cè)儀
|
不少于1臺(tái)
|
|
|
|
8
|
外壁漏磁檢測(cè)儀
|
不少于1臺(tái)
|
|
|
|
9
|
超聲波測(cè)厚儀
|
不少于2臺(tái)
|
|
|
|
10
|
具有內(nèi)檢測(cè)器牽引試驗(yàn)條件
|
要求
|
|
|
|
11
|
數(shù)字式超聲波探傷儀和超聲波檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊
|
數(shù)字式超聲波探傷儀不少于1臺(tái)
|
|
|
|
CSK-ⅠA不少于1塊
|
|
|
|
CSK-ⅡA-1不少于1塊
|
|
|
|
CSK-ⅡA-2不少于1塊
|
|
|
|
CSK-ⅡA-3不少于1塊
|
|
|
|
階梯試塊不少于1塊
|
|
|
|
1號(hào)試塊不少于1塊
|
|
|
|
2號(hào)試塊不少于1塊
|
|
|
|
3號(hào)試塊不少于1塊
|
|
|
|
4號(hào)試塊不少于1塊
|
|
|
