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1、零點(diǎn)校正

由于超聲波經(jīng)過保護(hù)膜、耦合劑(直探頭)或有機(jī)玻璃楔塊(斜探頭)進(jìn)入待測(cè)工件的，缺點(diǎn)定位時(shí)，需將這局部聲程移去，才干得到超聲波在工件中實(shí)踐聲程。

零點(diǎn)通常是經(jīng)過已知聲程的試塊進(jìn)行調(diào)理，如CSK-IA試塊中的R100圓弧面(斜探頭)或深100mm的大平底(直探頭)。

2、K值校正

由于斜探頭探傷時(shí)不只要知道缺點(diǎn)的聲程，更要得出缺點(diǎn)的筆直和水平方位，因而斜探頭還要**測(cè)定其K值(折射角)才干**地對(duì)缺點(diǎn)進(jìn)行定位。

K值通常是經(jīng)過對(duì)具有已知深度孔的試塊來調(diào)理，如用CSK-IA試塊50或1.5的孔。

3、定量校正

定量調(diào)理通常選用AVG(直探頭)或DAC(斜探頭)。